Sample Company

透過型電子顕微鏡(TEM) JEM-1400Plus(日本電子)

透過型電子顕微鏡(TEM) JEM-1400Plus(日本電子製)

装置概要
マイクロ~ナノのスケールで、試料の微細構造を透過電子像で観察します。主に組織切片像、ウイルスやナノ粒子等のネガティブ染色像の観察に適しています。

設置場所と担当者
設置場所:東広島 J棟304室(マップ
担当者 :小池 香苗(内線4630, 5692 Mail:koikeka[at])

予約・依頼方法
予約は大学連携研究設備ネットワークより行ってください。
「設備を検索」から「JEM-1400Plus」で検索できます。
依頼測定の場合は、予約前に担当者までご相談下さい。
料金表

相互利用(直接測定)

利用形態 利用料金 備考
学内利用 400円/時間 -
学外利用 3,000円/時間 中国地方国立大学は学内利用料金を適用

依頼測定

利用形態 利用料金 備考
学内利用 900円/時間 予約前に担当者と事前打ち合わせを行って下さい
学外利用 4,300円/時間 中国地方国立大学は学内利用料金を適用。
試料作製基本料 550円/時間 測定前試料作製、試料作製講習を行った場合に加算

仕様
・ハイコントラスト構成,主に生体試料・組織切片の観察に適しています
・sCMOSカメラ(ボトムマウント):有効pixel 2,048×2,048(日本電子)
・自動モンタージュ機能により,大面積撮影が可能
・タングステンフィラメント
・使用OS:Windows 10