装置概要

TEMは、試料を透過した電子を用いて、明視野像、暗視野像、電子線回折図形を取得できる装置です。付属装備は2台のCCDカメラ（サイドマウント：低倍率用、ボトムカメラ：高倍率用）とEDS（エネルギー分散型X線分析装置）です。ナノ粒子の形態観察、サイズ分布測定、微粒子の結晶構造解析、極所領域の化学組成分析に利用できます。

設置場所と担当者

設置場所：東広島　J棟103号室（マップ）
担当者　：前田誠（内線2483, mail:mmaeda[at]）

予約・依頼方法

予約は大学連携研究設備ネットワークより行ってください。
「設備を検索」から「JEM-2010」で検索できます。
依頼測定の場合は、予約前に担当者までご相談下さい。

料金表

相互利用（直接測定）

利用形態	利用料金	備考
通常測定	1,000円/時間	新規利用者は講習会の受講が必要

依頼測定

利用形態	利用料金	備考
通常測定	1,300円/時間	予約前に担当者と事前打ち合わせを行って下さい

仕様

EDS

・日本電子製 JED2300T ・検出可能元素：B～U ・有効検出面積：50mm2以上 ・分解能：146eV以下 ・取り出し角：22.3°以上 ・取り組み立体角：0.2str以上 ・付属品：ベリリウム製二軸傾斜ホルダー

CCDカメラ

・サイドマウント：有効pixel 1392×1040(OLYMPUS, MegaviewG2） ・ボトムマウント：有効pixel 2048×2048(OLYMPUS, CantegaG2)

試料作製について

マイクログリッド法を用いることが多いです。 TEM用の試料作成方法がわからない場合は担当者に相談して下さい