多機能透過型電子顕微鏡(TEM) JEM-F200(日本電子製)
装置概要
JEM-F200は、高い空間分解能と汎用性を両立した電界放出系透過電子顕微鏡です。TEMモードでは明視野像、暗視野像、電子線回折図形が取得できます。STEMモードでは明視野像、暗視野像（HAADIF-STEM像）、2次電子像、反射電子像、が取得できます。付属装備はGatan製4KCMOSカメラ、日本電子製EDS（エネルギー分散型X線分析装置）2台です。設置場所と担当者
設置場所：東広島 J棟103号室（マップ）担当者 ：前田誠（内線2483, mail:mmaeda[at]）
予約・依頼方法
運用開始は6月1日です。もうしばらくお待ちください。 予約は大学連携研究設備ネットワークより行ってください。「設備を検索」から「JEM-F200」で検索できます。
依頼測定の場合は、予約前に担当者までご相談下さい。
料金表
相互利用（直接測定）
| 利用形態 | 利用料金 | 備考 |
|---|---|---|
| 学内利用 | 1,600円/時間 | 新規利用者は講習の受講が必要です |
| アカデミック利用(大学、公的機関) | 3,900円/時間 | 新規利用者は講習の受講が必要です |
| 学外利用(企業) | 11,100円/時間 | 新規利用者は講習の受講が必要です |
依頼測定
| 利用形態 | 利用料金 | 備考 |
|---|---|---|
| 学内利用 | 2,300円/時間 | |
| アカデミック利用（大学、公的機関） | 6,400円/時間 | |
| 学外利用（企業） | 15,000円/時間 |
