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走査型電子顕微鏡 JSM-5610LV(日本電子)

走査型電子顕微鏡 JSM-5610LV(日本電子)

装置概要
試料表面を電子線で走査することで、表面の微細構造を観察する汎用SEMです。
低真空モードでは導電処理をせずに試料を観察することができます。

設置場所と担当者
設置場所:東広島 遺伝子実験施設 2F 走査型電顕室(マップ
担当者 :小池(内線4630, Mail: koikeka[at])

予約・依頼方法
予約は大学連携研究設備ネットワークより行ってください。
「設備を検索」から「JSM-5610」で検索できます。
依頼測定の場合は、予約前に担当者までご相談下さい。
料金表

相互利用(直接測定)

利用形態 利用料金 備考
学内利用 200円/時間 -
学外利用 18,800円/時間 中国地方バイオネットワークは学内利用料金を適用
オートファインコーター
JFC-1600
130円/検体 ターゲット:Pt
学外利用の場合、280円/回

依頼測定

利用形態 利用料金 備考
学内利用 750円/時間 -
学外利用 - 広島大学内のみ利用可
オートファインコーター
JFC-1600
220円/検体 ターゲット:Pt
試料作製基本料 550円/検体 測定前試料作製、試料作製講習を行った場合に加算

仕様
・一般的な二次電子像観察に加えて、生物などの含水試料、導電処理のできない非導電性試料に対してそのまま観察できる低真空機能を装備しています。
・倍率:×18 ~ 300,000
・加速電圧: 0.5 ~ 30 kV
・試料ホルダ:10mm用,32mm用
・タングステンフィラメント
・使用OS:Windows 2000

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