Sample Company

クライオ電界放出形走査電子顕微鏡 JSM-7800F (日本電子)

JSM-7800F (日本電子)

装置概要
波長の短い電子線を利用して、最大数nmの空間分解能で試料の表面構造を観察できます。
設置場所と担当者
設置場所:霞 霞総合研究棟115号室(マップ
担当者 :田中 幸恵(内線:6790, 外線:082-257-1790, mail:ykaitnk[at])
予約・依頼方法
利用を希望される場合は、学内・学外問わず、担当者までお問合せください。
装置詳細は大学連携研究設備ネットワークよりご確認ください。
「設備を検索」から「JSM-7800F」で検索できます。
料金表

自己測定

学内者利用料金 学外者利用料金
JSM7800-F機器利用料 1,710円/時間 5,700円/時間

依頼測定

学内者利用料金 学外者利用料金
JSM7800-F機器利用料 2,260円/時間 6,870円/時間

試料作製料

試料ごとに異なりますので、担当者までお問合せください。
仕様

検出器

3台(上方検出器:2 下方検出器:1)

空間分解能

最大 数nm(生体試料)

オプション

エネルギー分散型X線分析装置(JED-2300)
クライオトランスファーシステム(ALTO2500

大学連携研究設備ネットワーク上の装置詳細はこちら