クライオ電界放出形走査電子顕微鏡 JSM-7800F (日本電子)
装置概要
波長の短い電子線を利用して、最大数nmの空間分解能で試料の表面構造を観察できます。設置場所と担当者
設置場所:霞 霞総合研究棟115号室(マップ)担当者 :田中 幸恵(内線:6790, 外線:082-257-1790, mail:ykaitnk[at])
予約・依頼方法
利用を希望される場合は、学内・学外問わず、担当者までお問合せください。装置詳細は大学連携研究設備ネットワークよりご確認ください。
「設備を検索」から「JSM-7800F」で検索できます。
料金表
自己測定
学内者利用料金 | 学外者利用料金 | |
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JSM7800-F機器利用料 | 1,710円/時間 | 5,700円/時間 |
依頼測定
学内者利用料金 | 学外者利用料金 | |
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JSM7800-F機器利用料 | 2,260円/時間 | 6,870円/時間 |
試料作製料
試料ごとに異なりますので、担当者までお問合せください。仕様
検出器
3台(上方検出器:2 下方検出器:1)空間分解能
最大 数nm(生体試料)オプション
エネルギー分散型X線分析装置(JED-2300)クライオトランスファーシステム(ALTO2500